FT-340雙電測電四探針方阻電阻率測試儀

滿足標準：

1.硅片電阻率測量的國際標準（ASTM F84）.

;1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》.

;1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》.

;1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》.

功能描述Description：

1. 四探針組合雙電測量方法
2. 液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.
3. 高集成電路系統、恒流輸出.
4. 選配：PC軟件進行數據管理和處理.
5. 提供中文或英文兩種語言操作界面選擇

   適用范圍Widely used：

   1.覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試

   2.硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻  半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，

   涂層等物質的薄層電阻與電阻率  導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，

   4.抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，

   規格型號/ model	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
   1.方塊電阻sheet resistance	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×105Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×104Ω /□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×104Ω/□
   2.電阻率Resistivity	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×106Ω-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×105Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
   3.測試電流Test current	0.1μA.μA.0μA，100?A，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100mA	0.1μA.μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100mA	0.1μA、1μA、10μA，100?A，1mA，10mA，100mA	1μA，10μA，100?A，1mA，10mA，100mA
   4.電流精度Current	±0.1% accuracy	±0.2%  accuracy	±0.2%  accuracy	±0.3%  accuracy	±0.3%  accuracy	±0.3%  accuracy
   5.電阻精度Resistance	≤0.3% accuracy	≤0.3% accuracy	≤0.3% accuracy	≤0.5% accuracy	≤0.5% accuracy	≤0.5% accuracy